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降低EMI影響,手機D類放大器怎么設計?

發布時間:2012-12-03 責任編輯:Lynnjiao

【導讀】由于在效率上相對于AB類放大器的巨大優勢,D類放大器的應用越來越廣泛。根據市場調研機構 Gartner的報告,D類放大器在2006年至2011年之間的復合年成長率將達15.6%,從3.34億美元成長至6.88億美元,主要的成長動力來自于功耗敏感及空間受限的消費類電子產品。但D類放大器開關輸出的拓撲結構帶來了高頻的EMI,如何控制好D類放大器的EMI,是系統工程師必須要考慮的方面。

D類放大器中EMI的產生

變化的電壓和電流信號會產生電磁場輻射,形成電磁波干擾(EMI:Electro-Magnetic Interference),這些電磁波信號會影響收音機、電視和手機等產品的正常工作。為了防止電子設備的EMI問題,世界各國都制定了相關的標準規定,如美國的聯邦通信委員會(FCC:Federal Communication Commission)的認證,目的都是限制電子產品的電磁波輻射。

EMI測試是在特定的電波暗室中進行的,測量由產品中輻射出來的電磁波強度,與FCC等規范相比較,不得超過規定的最大能量。FCC規范中將產品按用途分為 CLASS A 、 CLASS B 兩大類, A 類為用于商務或工業用途的產品, B 類為用于家庭用途的產品, FCC 對 B 類產品法規要求更嚴格。

FCC 規范的CLASS A和CLASS B標準
圖1:FCC 規范的CLASS A和CLASS B標準

傳統D類放大器開關輸出的拓撲結構是一個很好的EMI發射源:如調制的開關信號,開關信號的邊沿變化,電源線上變化的電流信號等都會產生大量的EMI,如下圖所示。

D類放大器開關輸出的拓撲結構
圖2:D類放大器開關輸出的拓撲結構

不同的發射源對應了不同的EMI頻譜,由于D類放大器的調制頻率一般在250kHz到1.5MHz之間,因此調制的開關信號和電源線上變化的電流信號帶來的EMI主要集中在10MHz以下的頻段;而方波的邊沿變化一般是在納秒級別的,因此它們所帶來的EMI主要集中在幾十MHz到幾GHz的高頻段。

EMI主要通過PCB的走線、通孔和揚聲器的連線向外輻射,較大能量的EMI輻射需要一個“高效率”的天線,對不同的頻率,一個有效的天線長度是該頻率波長的四分之一(λ/4),小于這個長度,就不能形成有效的對外輻射。對30MHz的頻率,采用一般的FR4的PCB板,天線長度需要大于114.1cm才能形成有效的輻射。所以在手機上采用D類放大器時,在放大器輸出的PCB走線和揚聲器連線上的方波邊沿變化是EMI的最重要來源。特別是手機應用中所關心的一些頻段,如下表所示:基本都在100MHz以上,因此我們需要特別地關注由方波邊沿變化所引起的EMI輻射。

手機應用中的一些頻段
圖3:手機應用中的一些頻段

對前面傳統D類放大器的輸出波形,由傅里葉分析可知,方波納秒級的邊沿變化和高頻的振鈴會引入非常大的高頻EMI,嚴重影響FM、手機模擬電視等的接收效果,容易出現收聽雜音或雪花臺的情況,讓系統工程師頗感頭痛。
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EEE技術降低D類的EMI

艾為的音樂功放(Music-PA)AW8010、AW8110、AW8145采用獨特的、擁有專利的EEE(Enhanced-Emission-Elimination)技術,針對D類放大器的EMI問題,優化了輸出級的設計,極大地降低了EMI,簡化了設計。

方波的邊沿變化包含了大量的高頻能量,會對系統內的電子設備造成很大的EMI干擾,EEE技術通過特有的邊沿速率控制優化了輸出的方波信號,可以有效地控制高頻能量的EMI輻射,同時不影響D類放大器的其他性能。

下面是傳統D類放大器和帶有EEE技術的AW8010的EMI測試結果,測試使用60cm(24inch)的輸出線。上面的紅色實線是FCC CLASS B的標準線,紅色虛線是-6dB的裕量線,藍色的線是實際測試曲線,粉色的線是測試環境的EMI背景噪音。

傳統D類放大器和帶有EEE技術的AW8010的EMI測試結果
圖4:傳統D類放大器和帶有EEE技術的AW8010的EMI測試結果

從上圖的測試結果可以看出,帶有EEE技術的AW8010的實測結果與測試環境的EMI背景噪聲基本一樣。在高頻射頻段,傳統D類放大器的EMI輻射與背景噪聲差別也不大,但在80~500MHz的頻段內,有相當大的EMI輻射,因此系統工程師在使用D類放大器的時候會發現射頻模塊的靈敏度受到的影響較小,但對FM、手機模擬電視的靈敏度影響很大,甚至不能正常工作,采用EEE技術后,在該頻段有超過20dB的裕量,極大地改善了D類放大器對FM、手機模擬電視的影響。

下圖是傳統D類放大器和帶EEE技術的AW8010對FM接收信號的信噪比影響。傳統D類放大器對FM的影響很嚴重,信號變差甚至丟臺,而帶EEE技術的AW8010對FM影響很小,降低了系統工程師的調試難度。

傳統D類放大器和帶EEE技術的AW8010對FM接收信號的信噪比影響
圖5:傳統D類放大器和帶EEE技術的AW8010對FM接收信號的信噪比影響

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合理的PCB布局改善EMI

EEE技術顯著地改善了D類放大器的EMI問題,簡化了PCB設計,使PCB的布線更加寬松,但任何手段都沒有辦法完全地消除這個問題。EMI設計就像“矛”和“盾”的關系,發射源是“矛”,發射源到敏感模塊的防護是“盾”,“矛”鈍“盾”堅,就不會有EMI的問題,如果“矛”很鈍,但“盾”也很脆弱,那還是會有EMI的問題。因此,在使用D類放大器的時候,在PCB的布局上需要仔細考慮。

首先是輸出線,要將放大器到揚聲器的連線盡量縮短,這是最有效地降低EMI的方法;而且輸出布線不要經過或太靠近敏感的信號線和電路。

還有電源、地線的布局也很重要。功放電源上電流波動很大,因此電源上的濾波電容要盡量靠近功放芯片放置;同時合適地進行布線以便可以預測電流走向,最好采用星形接法。

對翻蓋手機的布線可能會遇到一個問題,翻蓋手機的上部和下部通過柔性電纜連接,電纜中包含電源、地還有LCD顯示的數據線,如果在翻蓋手機的上部裝有揚聲器,那么輸出的音頻信號也需要通過這根電纜,當音頻信號線靠近顯示數據線時,就可能會破壞顯示的數據,因此需要將這兩種信號線分開,同時加上地線隔離。不過對這種情況最好還是加上磁珠和電容來抑制高頻的EMI,并盡可能地將磁珠、電容靠近放大器放置。磁珠的選擇也很重要,采用高阻抗、低直流電阻、大額定電流的磁珠可以很好的起到高頻EMI的抑制作用,同時對放大器的其他性能影響很小。

如下圖所示,在進行D類放大器的PCB布局時,為了抑制高頻EMI,以下兩點很重要:

1:輸出布線盡量短而寬。
2:磁珠、電容緊靠芯片輸出管腳放置,盡量減短輸出管腳到磁珠的布線長度。

同時,功放的其他外圍器件也盡量緊靠芯片放置,還有電源、地線采用星形接法都對提高D類功放的性能有好處。

AW8010 PCB布局示意圖
圖6:AW8010 PCB布局示意圖

高效率、低功耗使得D類放大器的應用越來越廣泛,D類放大器EMI也越來越受到關注。采用艾為帶有EEE技術的AW8010、AW8110、AW8145,極大地降低了EMI的輻射,簡化了設計。其中音樂功放AW8110、AW8145同時還采用了獨特的、擁有專利保護的無破音(NCN:Non-Crack-Noise)技術,提高音質的同時有效地保護揚聲器,是音樂手機等便攜式設備的理想選擇。

AW8010 典型應用圖
圖7:AW8010 典型應用圖

艾為音樂功放產品列表
圖8:艾為音樂功放產品列表

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