【導讀】安捷倫科技和 Cascade Microtech日前宣布雙方結成戰略合作關系，旨在為客戶提供經過全面配置和驗證的射頻測量解決方案，該解決方案不僅能夠簡化晶片級半導體測量，而且還能提供有保障的配置、安裝及支持，統一的、獨特的晶片級直流和射頻測量解決方案增強了客戶的測量信心。
從測量配置到精確驗證
晶片級射頻測量系統的選定和配置是一項費時費力的工作，客戶通常需要對多個供應商提供的測試設備進行現場配置與驗證，并且必須為初次測量預留更久的設置時間。借助安捷倫與 Cascade Microtech聯合推出的晶片級測量解決方案（WMS），半導體客戶現在能夠使用適當的設備執行精確、可重復的直流和射頻測量以及器件表征和建模，以便顯著縮短初次測量設置時間。
最新的晶片級測量解決方案整合了 Cascade Microtech 的晶圓探針臺、探針和校準工具以及安捷倫測試儀器和測量分析軟件，將會為半導體測試帶來深遠影響。每種解決方案配置在出廠前均已通過預先驗證，以滿足客戶的特定應用需求，在 Cascade Microtech 解決方案專家安裝完畢后，可根據之前商定的驗收標準再次驗證配置。安捷倫或 Cascade Microtech 承諾免費填補解決方案缺失的任何部件，以確保客戶享受有保障的配置。
另外，在 Agilent WaferPro-XP 測量軟件的基礎上，安捷倫和 Cascade Microtech 共同開發了獨特的工作流程解決方案軟件。加上 Cascade Microtech 的 Velox 探針臺軟件，客戶現在可以開發出適合多種測量需求的全面晶圓測試套件（例如，S 參數、DC-IV/CV、噪聲系數、閃變噪聲和增益壓縮）。這種組合軟件為測試開發提供了相干環境。
每個晶片級測量解決方案均配有完善的支持套件，并且允許客戶聯系經驗豐富的區域解決方案專家以索取晶圓上測試測量技巧。Cascade Microtech 提供單點聯系方式，幫助客戶迅速解決問題。
評價
安捷倫副總裁兼元器件測試事業部總經理 Gregg Peters 表示：“安捷倫和 Cascade Microtech 作為測試測量行業和晶圓上探測領域的全球領導者，它們擁有精深的專業技術和豐富的產品生產線，可以提供用于晶片級器件測試的全部構建模塊。通過協同的資源和方案，我們面向雙方共同的半導體客戶首次推出了獨特的不同以往的晶片級測量解決方案。”
Cascade Microtech 總裁兼首席運營官 Michael Burger 表示：“半導體制程的開發、建模和表征任務日趨復雜化，而產品上市周期卻在不斷縮減，客戶對測量精度的要求也越來越嚴苛。我們攜手安捷倫開發了值得信賴的晶片級測量解決方案，幫助工程師對半導體元件和器件執行精確、快速的高級直流和射頻測量，以確保他們及時推出高質量的產品。”
定價及上市信息
安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發的晶片級射頻測量解決方案現在提供多種配置選擇，從采用半自動或手動探針臺的新的高度集成解決方案、到在現有的探針臺上進行特定應用硬件升級。新型 Agilent WaferPro-XP 測量軟件平臺適用于研發器件表征，可與現有的晶片級測量解決方案配合使用。定價取決于客戶所選擇的解決方案配置。如欲了解特定定價和銷售信息，請聯系您當地的安捷倫現場工程師或 Cascade Microtech 銷售經理。
如欲了解安捷倫和 Cascade Microtech 共同研發的晶片級測量解決方案，請訪問 www.agilent.com/find/wms 和 www.cascademicrotech.com/measureone。瀏覽圖像，請訪問 www.agilent.com/find/wms_images。有關背景介紹，請訪問 www.agilent.com/find/wms_backgrounder。
