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如何在高速信號中快速定位故障,進行PCIe失效分析

發布時間:2023-04-26 責任編輯:lina

【導讀】FA/RMA工程師需要在嚴苛的客戶投訴、產線運轉時間中,能夠有足夠的手段以及盡可能低的學習成本,快速驗證諸如PCIe高速總線的故障,從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋,甚至能夠推動RD優化設計,確保團隊能夠得到持續的正向發展和評價。


在服務器、PC等電子設備主板的生產中,往往會出現產線的故障,需要失效分析工程師(FA)以及維修工程師(RMA)去快速定位生產過程當中的故障件,特別是一些高速信號的故障。在整個過程中,往往需要面臨很多的壓力和責任,比如:

  • 客戶投訴需要及時反饋

  • 不良風險點的識別和內部分析

  • 不斷完善設計檢查表,推動 RD 優化設計

  • 指導生產制程改善

  • 團隊的能力需要持續提升

高速信號的特殊性

但是要應對這些壓力,往往也對工程師提出了很高的要求。目前來看FA/RMA工程師由于工作性質問題,要去應對上面的挑戰往往也很棘手,特別是高速信號相關的故障,而且由于高速信號的特殊性,這類信號也容易出問題,其中PCIe信號是其中的典型。


主要原因:


  • 高速信號帶寬高、速率快、信號冗余度也因此變小;

  • PCIe 信號是高速信號互聯的關鍵;

  • PCIe 互聯的接口總類多;

  • 缺少測試手段,往往只有低端示波器以及萬用表,無法用于高速信號問題排查;

  • 缺乏系統的信號完整性知識,往往依賴于產品研發;


因此FA/RMA工程師需要在嚴苛的客戶投訴、產線運轉時間中,能夠有足夠的手段以及盡可能低的學習成本,快速驗證諸如PCIe高速總線的故障,從而能夠更快更好的給RD提出有效的反饋,甚至能夠推動RD優化設計,確保團隊能夠得到持續的正向發展和評價。


如何在高速信號中快速定位故障,進行PCIe失效分析

圖1. 泰克新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀

新一代TMT4 PCIe性能綜合測試儀

針對上面提到的FA/RMA工程師所遇到的挑戰,泰克推出了新一代的TMT4 PCIe性能綜合測試儀。


如何在高速信號中快速定位故障,進行PCIe失效分析

圖 2. 豐富的硬件接口形式,應對各種產品形態


這臺儀器集成了豐富、便捷的功能,直達PCIe 信號鏈路、物理層細節信息,直觀的圖示有利于工程師學習和掌握:

  • 支持PCIe Gen3/4信號的一鍵式掃描功能,同時掃描所有鏈路的發射和接收性能。

  • 支持多種多樣的硬件接口,如CEM、M.2、U.2、U.3等等,適配各種信號連接。

  • 速度飛快,掃描所有16條PCIe Gen4總線鏈路只需要1-2分鐘。

  • 一學就會,無需學習成本,通過網頁訪問,只需要一兩個按鍵操作就能完成測試。

  • 提供專業報告,方便與RD一起進行問題分析與定位。


如何在高速信號中快速定位故障,進行PCIe失效分析

圖3. 專業級的PCIe物理層Tx/Rx分析


通過TMT4 PCIe性能綜合測試儀,整個FA/RMA工程師團隊可以在短短1-2分鐘內提交全面的PCIe鏈路的發射機和接收機的測試結果,從而能夠給出專家級的分析報告;因此也能夠幫助工程師更快的對客戶投訴做出反饋,以及幫助工程師快速確定問題所在,確保產線正常運轉,最大程度提升工程師價值以及降低產線成本。


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