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數(shù)模轉(zhuǎn)換器的開環(huán)校準技術(shù)

發(fā)布時間:2023-06-27 責任編輯:lina

【導讀】原則上,您向DAC提供數(shù)字輸入,并提供精確的輸出電壓。實際上,輸出電壓的精度受DAC和信號鏈中其他元件的增益和失調(diào)誤差的影響。系統(tǒng)設(shè)計人員必須補償這些誤差,以獲得精確的輸出電壓。這可以通過外部組件和制造后修整來實現(xiàn)。數(shù)字校準修改發(fā)送到DAC的輸入,從而考慮增益和失調(diào)誤差,從而消除了對外部元件和微調(diào)的需求。


原則上,您向DAC提供數(shù)字輸入,并提供精確的輸出電壓。實際上,輸出電壓的精度受DAC和信號鏈中其他元件的增益和失調(diào)誤差的影響。系統(tǒng)設(shè)計人員必須補償這些誤差,以獲得精確的輸出電壓。這可以通過外部組件和制造后修整來實現(xiàn)。數(shù)字校準修改發(fā)送到DAC的輸入,從而考慮增益和失調(diào)誤差,從而消除了對外部元件和微調(diào)的需求。

開環(huán)系統(tǒng)的校準

開環(huán)系統(tǒng)沒有反饋路徑,因此設(shè)計人員可以相信輸出電壓處于正確的值。高精度通常需要具有14至16位分辨率的精密DAC。積分非線性(INL)和微分非線性(DNL)的數(shù)據(jù)手冊規(guī)格不包括增益和失調(diào)誤差。這些誤差因設(shè)備而異,必須先測量,然后才能刪除。這通常作為工廠校準的一部分完成。

圖1顯示了理想DAC與實際DAC的傳遞函數(shù)。在本例中,當預期輸出為0 V時,失調(diào)誤差會導致輸出電壓為負,增益誤差產(chǎn)生的跨度大于預期范圍。


數(shù)模轉(zhuǎn)換器的開環(huán)校準技術(shù)
圖1.DAC 傳遞函數(shù)


傳遞函數(shù)可以建模為由 y = mx +c 描述的直線。

其中:

y 是輸出
m 是傳遞函數(shù)的斜率
x 是 DAC 的輸入
c 是失調(diào)電壓

理想DAC的增益(m)為1,失調(diào)(c)為0,輸出以完美的線性方式跟蹤輸入。實際DAC具有非理想的增益和失調(diào)值,一旦已知即可進行補償。

以標稱輸出范圍為16 V至0 V的10位DAC為例。當數(shù)字輸入設(shè)置為0時,測量–30 mV輸出。當數(shù)字輸入設(shè)置為65,535(滿量程)時,將測量10.02 V輸出。

由此,我們可以確定:

失調(diào)誤差為 –30 mV
量程誤差為 20 mV – (–30 mV) = 50 mV,實際量程為 10.05V
增益為 10.05 V/10 V = 1.005

補償增益誤差

為了補償增益誤差,DAC的數(shù)字輸入必須乘以增益誤差的倒數(shù):

x 1 = x × (10 V/10.05 V)

其中 x 是所需的輸入,x1 是加載到 DAC 的值。輸入為 0 和 65,535 將產(chǎn)生 10.05V 跨度,而 0 和 65,209 的輸入將產(chǎn)生所需的 10V 跨度。

補償失調(diào)誤差

失調(diào)誤差導致DAC在數(shù)字輸入為0時產(chǎn)生0 V以外的輸出電壓。失調(diào)誤差可以通過在DAC輸入中添加或減去一個等效數(shù)字來測量和消除。

在本例中,DAC有65,536個可能的代碼,輸出范圍為10.05V。這意味著每 1 LSB(最低有效位)步長為

10.05 V/65536 = 153.35 μV。

在本例中,–30 mV失調(diào)相當于(30 mV/153.35 μV)= 196 LSB。因此,寫入DAC的值196將產(chǎn)生0 V的輸出電壓。

將一切整合在一起

補償增益和失調(diào)誤差可產(chǎn)生精確的電壓。下面的公式顯示了如何計算正確的DAC輸入以產(chǎn)生所需的電壓。

實際DAC輸入 = (10 V/10.05 V) × 理想 DAC 輸入 + 196

替代選項

在DSP或微處理器中執(zhí)行這些計算需要額外的開銷,這可能既昂貴又耗時。一些DAC包括片內(nèi)寄存器,允許在DAC中進行計算,從而釋放處理器來執(zhí)行其他功能。AD536x、AD537x、AD538x和AD539x系列密集DAC ?多通道DAC具有8至40個通道,分辨率為12至16位。單電源版本可產(chǎn)生 5V 輸出。雙電源版本可產(chǎn)生 ±10V 輸出。每個器件的每個通道都有專用的m和c寄存器,允許每個通道的增益和失調(diào)校準。

圖2顯示了AD5370 16位、40通道DAC的一個通道。計算 m 和 c 寄存器的值的過程如下所述:

通過將DAC輸入設(shè)置為零和滿量程來測量失調(diào)和滿量程誤差。


●通過將范圍除以可能的代碼數(shù)(在本例中為 65536)來計算實際 LSB 大小
●從默認的 m 寄存器值中減去與超額跨度對應的 LSB 數(shù)。例如,50 V范圍內(nèi)10 mV的超量范圍相當于326 LSB
●將與偏移量對應的LSB數(shù)量添加到默認c寄存器值。例如,–10 mV的失調(diào)為65 LSB

現(xiàn)在可以將DAC視為理想值,并計算適當?shù)闹狄匝a償內(nèi)部和系統(tǒng)誤差。


數(shù)模轉(zhuǎn)換器的開環(huán)校準技術(shù)
圖2.AD5370 DAC的單通道

(作者:Ken Kavanagh)


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